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碳化硅的厚度范圍?可以從幾微米到幾毫米不等，具體取決于其應用場景和制造工藝。例如，碳化硅晶圓片的厚度可以達到130微米（um），而碳化硅顆粒的尺寸則有1-3mm、3-5mm等多種規格?12。碳化硅在不...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進行強度調制，在材料中產生熱波，光源激發的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進行強度調制，在材料中產生熱波，光源激發的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進行強度調制，在材料中產生熱波，光源激發的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
在半導體制造領域，晶圓的厚度測量是至關重要的一環，它直接關系到產品的質量和性能。為了滿足高精度測量的需求，我們研發了一款對射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測量設備，專門用于晶圓厚度的精確測量
金剛石膜檢測與測試報告 檢測項目 金剛石膜的檢測項目主要包括以下幾個方面：膜厚度、晶體結構、表面粗糙度、附著力、熱穩定性及耐磨性等。
硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學測量技術，如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中，反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計算硅片厚度，而干涉法則是利用光的干涉現象來測量厚...
非接觸式半絕緣方阻測量技術可以廣泛應用于各種領域,比如材料表面導電性測試、薄膜導電性測量、電路板測試等。它具有測量快速、精度高、不損傷被測物體等優點。
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2021年
公司成立1000萬
注冊資金28個
專利技術365天
用心服務每一天
技術文章 ARTICLES
2025-05-28無損電阻率測試儀是一種用于測試物質電阻率的儀器，特別適用于不希望對樣品造成任何損害的檢測場合。這種測試儀廣泛應用于工程檢測、材料分析以及質量控制等領域。通過不同的物理原理和方法，可以實現對材料電阻率的精確測量，且不會對樣品本身產生任何物理或化學上的影響。無損電阻率測試儀的工作原理：1.接觸式測量原理通過在材料表面放置電極，施加一定的電流，并測量電壓降落。根據歐姆定律\(R=\frac\)（電阻R等于電壓V與電流I之比），可以計算出電阻值。而電阻率是電阻與樣品的幾何...
2025-04-30遷移率測試儀是用于測量材料中載流子（如電子、離子）遷移速率的專業設備，廣泛應用于半導體、新能源電池、納米材料等領域。其通過精確控制電場、溫度等條件，量化載流子在材料中的移動能力，為材料性能評估與研發提供關鍵數據。一、使用前準備（一）設備檢查使用前需全面檢查遷移率測試儀各部件狀態。查看主機外殼是否完好，確認顯示屏、操作按鈕、接口等無損壞；檢查電場發生裝置、溫度控制系統、數據采集模塊等核心組件連接是否穩固。特別要檢查測試腔密封性，確保無漏氣、漏液現象，避免外部環境干擾測試結果。同...
2025-04-12半絕緣碳化硅與導電性碳化硅在電特性和應用領域上差異顯著。半絕緣碳化硅，作為一種電阻率較高的材料，其電阻率范圍通常在10^5-10^12Ω.cm，非常適用于高溫、高電壓環境，如電力電子設備和電動汽車部件。而導電性碳化硅，電阻率低，位于10^-3-10^-2Ω.cm之間，更適合低壓、高電流場景，如功率半導體和射頻電子器件。此外，由于成分和制備工藝的差異，導電性碳化硅的成本相對較高，而半絕緣碳化硅則因其電性能要求較低而成本更為親民。因此，在選擇材料時，需根據具體應用環境來決定：高溫...
2025-03-28無損方塊電阻測試儀是一種用于測量材料表面電阻的儀器，特別適用于評估半導體材料、電導體、絕緣體以及其他具有電導性能的材料。與傳統的電阻測試方法不同，通過非接觸方式進行測量，無需破壞或接觸被測試材料的表面，具有高精度、高效率和對測試對象的保護作用。廣泛應用于半導體、電子元器件、材料科學、表面處理等領域。在工業生產過程中，檢測電導性能可以有效地保證產品質量，確保制造過程中材料的電學性能符合標準要求。無損方塊電阻測試儀的主要特點：1.無接觸測試大的優勢之一就是其無接觸性。傳統的電阻測...
2025-02-28非接觸電阻率測試儀是一種先進的電氣測量工具，旨在精準測量材料的電阻率而無需與樣品直接接觸。這種儀器在電子、材料科學、電氣工程和環保監測等領域具有廣泛應用。隨著科技進步和市場需求的增加，應用場景正在不斷擴展。非接觸電阻率測試儀的工作原理：1.電磁感應原理：利用高頻電流通過探頭產生的電磁場與樣品的相互作用，來測量材料的電阻特性。儀器通過變化電磁場的強度和頻率，從而分析材料的電導和電阻率。2.反射和透射技術：通過向樣品發射電信號，并分析其反射或透射回來的信號，以確定材料的電阻率。這...
2025-02-18硅片電阻率測試儀的維護工作對于確保測試結果的準確性和儀器的使用壽命至關重要。日常清潔外殼與電極清潔：定期使用干細棉布或擦拭紙輕輕擦拭測試儀的外殼，去除灰塵、油污等雜質，防止其進入儀器內部影響性能。對于測量電極部分，更要仔細清潔，可使用干凈的棉簽蘸取少量酒精進行擦拭，去除電極上的污垢和殘留物，但要注意避免液體接觸到儀器內部的電子元件。顯示面清潔：先用拭鏡紙輕輕擦拭顯示面表面，去除灰塵和指紋等污漬，然后再用棉花棒沾工業用酒精，輕輕擦拭顯示面表面，并需等酒精揮發后，再裝回去。注意擦...
